# SPC WASM 验证台

Cmd_Spc · XR / XS / Cpk

WASM 未加载

## 输入

0 个数据
n
k
USL
LSL
x

## 结果

未执行
匹配项
0
最大差值
-
WASM Cpk
-
前端 Cpk
-
Xbar-R 控制图 XR
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Xbar-R 用子组均值观察过程中心，用子组极差观察组内波动。适合子组容量较小的连续型测量数据，图中的 CL 为中心线，UCL/LCL 为控制限。
Xbar-S 控制图 XS
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Xbar-S 用子组均值观察过程中心，用样本标准差观察组内离散程度。适合子组容量较大或更关注标准差口径的场景，S 图的控制限由 B3/B4 系数计算。
过程能力指标 Cp / Cpk / Pp / Ppk
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能力指标 对比规格限下的短期和整体能力。柱子越高表示能力越强，参考线 1.00 和 1.33 用于快速判断过程是否达到常见能力门槛。
直方图与正态曲线 Histogram
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直方图 查看测量值分布、偏态和集中区间。正态曲线按当前计算结果叠加，用来辅助判断数据分布与能力指标是否相互印证。
I-MR 单值-移动极差图 I-MR
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I-MR 直接使用原始单点序列，适合没有稳定子组或每次只采一个值的场景。I 图看单值是否越界，MR 图看相邻两点变化是否异常。
Run Chart 趋势图 Run
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Run Chart 不使用控制限，重点观察连续上升、连续下降、周期性和长时间偏在中位线一侧等趋势。它适合在看控制图前先做快速过程扫描。
Median-R 中位数-极差图 Median-R
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Median-R 用每个子组的中位数替代均值，对个别异常点更稳健。它可以和 Xbar-R 对照，如果均值图异常而中位数图稳定，通常说明异常点影响较大。
EWMA 指数加权移动平均图 EWMA
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EWMA 对历史数据做指数加权，当前页面 lambda 取 0.2。它比普通控制图更容易发现持续的小幅漂移，适合验证过程是否慢慢偏离目标。

字段 | WASM | 前端复算 | 差值 | 状态
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等待执行

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